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  微分干涉（DIC）


  
    
    
    微分干涉（DIC）
    
    
    適用于檢測高度差異極其微小的樣本，包括金相組織、
    礦物、磁頭研磨面和硬盤表面及晶圓研磨面。
    
    
    
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    產品特點
    
    
      
      不必考慮相差環及聚光鏡環的遮擋，可以實現高數值孔徑的物鏡觀察，提高軸向分辨率
      所觀察到的樣品各組成相間的相對層次關系突出，表現出浮雕或三維圖像
    
    
  
    
    
    
      

    產品特點
    

    
    
  
    
  
    

    

    


    






   

    
  
    
    
    
      
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          長工作距離APO物鏡
      
    
        
    
            
        
    

        
    
    
  
    
  
  
    

    

    
  


  




  
    
    
    
      
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